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Cassification
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更新時間:2026-07-15
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菲希爾XDL230 X射線鍍層測厚儀
適配厚度區間參考
超薄貴金屬:Au、Pd、Rh 0.05μm 起測
功能性鎳、錫:0.05μm 起測
裝飾鉻、多層鎳:0.05μm 起測
鋅、銅厚鍍層:最高可達百微米級
XDL230 對比 XULM240 簡易區分
XDL230:上照式,樣品放臺面從上往下測,適合大件、異形、深腔工件;手動 XY,性價比高,電鍍廠主流選型
XULM240:下照式,樣品架懸空,主打微小芯片、半導體、極小元器件,光斑更小、自動化程度更高
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230適用場景總結
適合工廠來料檢驗、實驗室質檢、產線抽檢,兼顧大件五金與微小電子件;不想投入全自動機型、但需要多點手動移動測量的企業,是電鍍、連接器行業普及率最高
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