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產(chǎn)品分類
Cassification
更新時間：2026-07-14 
瀏覽次數(shù)：96泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO測量原理與測頭配置
傳感：壓電式傳感器，機動滑行掃描（帶基準(zhǔn)導(dǎo)塊 Skidded，自帶機械濾波，無需額外調(diào)平）
測針：金剛石針尖，半徑 5μm，測力 200mg，耐磨穩(wěn)定，通用絕大多數(shù)金屬加工件
掃描行程：標(biāo)準(zhǔn) 5mm，掃描速度 2mm/s，單次測量 5 秒內(nèi)出完整數(shù)據(jù) + 輪廓曲線
泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)
1. 量程與精度
垂直分辨率：0.01μm
Ra 測量范圍：0~40μm
Rz/Rt/Rp/Rv 范圍：0~199μm
準(zhǔn)確度：讀數(shù) ×5% + 0.1μm
重復(fù)精度：讀數(shù) ×2% + 底噪 0.1μm
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